Description

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Die zweidimensionale R ntgendiffraktion ist die ideale, zerst rungsfreie Analysemethode f r Proben aller Art. Hierzu geh ren Metalle, Polymere, Keramiken, Halbleiter, D nnfilme, Beschichtungen, Farben, Biomaterialien, Verbundstoffe u.v.m. Die 2. Auflage von Two-Dimensional X-Ray Diffraction erl utert als aktuelles Referenzwerk, wie die neuesten 2D-Dektektoren in Diffraktometer integriert werden, wie sich mithilfe eines 2D-Detektors f r Diffraktometer die besten Daten gewinnen lassen und wie die Daten zu interpretieren sind. beraus hilfreich f r alle, die die 2D-Diffraktion im eigenen Labor umsetzen m chten, sind die Ausf hrungen des Autors zu den physikalischen Prinzipien, zur Projektionsgeometrie und zu mathematischen Ableitungen.
- Bietet neue Inhalte in allen Kapiteln. Die meisten Abbildungen sind g nzlich in Farbe und zeigen so mehr Einzelheiten in den Illustrationen und Diffraktionsmustern.
- Deckt die j ngsten Fortschritte in der Detektortechnik und bei Strategien zur zweidimensionalen Datensammlung ab, die dazu gef hrt haben, dass 2D-Detektoren verst rkt in der R ntgendiffraktion zum Einsatz kommen.
- Behandelt ausf hrlich neue Innovationen im Hinblick auf R ntgenquellen, Optik, Systemkonfigurationen, Anwendungen und Algorithmen zur Datenevaluierung.
- Enth lt neue Methoden und Beispiele f r Versuchsaufbauten f r Belastungs-, Textur-, Kristallgr e-, Kristallorientierungs- und D nnfilmanalysen.

Die 2. Auflage von Two-Dimensional X-Ray Diffraction ist ein wichtiges Referenzwerk f r Forscher und Entwickler in den Materialwissenschaften, der Chemie und Physik sowie im Pharmabereich, sowohl in der Industrie als auch im universit ren Umfeld, und f r alle, die die R ntgendiffraktion als Charakterisierungsverfahren einsetzen. Dieses Nachschlagewerk darf in der Handbibliothek von Anwendern auf allen Ebenen, von Ger tetechnikern, Managern in R ntgenlabors und Ger teentwicklern nicht fehlen.

About the Author

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Bob B. He, PhD, is Director of Innovation and Business Development XRD2 at Bruker AXS-an industry leader in X-ray diffraction instrumentation and solutions (formally Siemens AXS). Dr. He holds 17 U.S. patents and two R&D 100 awards in XRD instrumentation. In recognition of his contribution to the XRD community, he has been recently awarded ICDD Fellow. He earned his doctorate in materials science from Virginia Tech.